發(fā)動(dòng)機(jī)孔探過程中使用工業(yè)內(nèi)窺鏡進(jìn)行大尺寸測(cè)量方法的探討

2014-07-11 18:11:12

如今工業(yè)內(nèi)窺鏡在眾多領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用,本文主要探討在發(fā)動(dòng)機(jī)孔探過程中使用工業(yè)內(nèi)窺鏡進(jìn)行大尺寸測(cè)量的相關(guān)問題。

一、概述

光學(xué)測(cè)量技術(shù)是發(fā)動(dòng)機(jī)孔探技術(shù)的一個(gè)質(zhì)的飛躍,其利用測(cè)量功能,通過依賴被檢測(cè)對(duì)象上的已知尺寸做為參照物(即比較測(cè)量法) 或自身具有的測(cè)量體系(即絕對(duì)測(cè)量法) 可以對(duì)缺陷的尺寸大小進(jìn)行測(cè)量,以便對(duì)缺陷進(jìn)行定量的評(píng)估而達(dá)到視情維護(hù)的重要目的。

目前只有視頻內(nèi)窺鏡具有光學(xué)測(cè)量功能,其中比較測(cè)量法主要是單物鏡比較測(cè)量法,而絕對(duì)測(cè)量法主要有單物鏡陰影測(cè)量法、雙物鏡立體測(cè)量法、單物鏡激光測(cè)量法、單物鏡三維立體相位掃描測(cè)量法(以下簡(jiǎn)稱 3D相位掃描測(cè)量)等。

其實(shí)很早以前,在光學(xué)測(cè)量技術(shù)還未形成的時(shí)候,孔探人員會(huì)用已知直徑的保險(xiǎn)絲去比量缺陷,這就是最早的比較法測(cè)量的一種應(yīng)用,當(dāng)然這肯定有著很大的局限性。隨著光學(xué)測(cè)量技術(shù)發(fā)展到今天,較小的缺陷已經(jīng)能夠相對(duì)精確的測(cè)量了,但是對(duì)一些尺寸比較大的缺陷如何精確測(cè)量,反而無法很容易被掌握,下面嘗試就此問題結(jié)合具體案例進(jìn)行工業(yè)內(nèi)窺鏡實(shí)用性的分析與探討。

二、如何實(shí)現(xiàn)大尺寸的精確測(cè)量

1. 標(biāo)尺對(duì)比測(cè)量

通常情況下,對(duì)較大尺寸數(shù)據(jù)的獲得是通過與周邊已知物的尺寸進(jìn)行比例對(duì)比來獲得的。這種數(shù)據(jù)的獲得需要人的經(jīng)驗(yàn)和對(duì)結(jié)構(gòu)的了解,所提供的估測(cè)數(shù)據(jù)可以作為一定的參考。這種方法,其實(shí)就是最古老的比較測(cè)量法。

比如GE90發(fā)動(dòng)機(jī) HPC1級(jí)轉(zhuǎn)子葉片前緣葉尖角彎曲(如圖1),需要測(cè)量軸向和徑向尺寸。這類損傷一般在20mm以上,起初只能根據(jù)廠家提供的葉片尺寸進(jìn)行比例估算,差異很大。

后來,廠家提供專用的比量工具對(duì)此類損傷進(jìn)行比較(如圖2,圖3所示)。通過對(duì)比標(biāo)尺,可以比較準(zhǔn)確的比量尺寸,從而達(dá)到測(cè)量的目的。這類工作的難度在于如何將標(biāo)尺準(zhǔn)確的進(jìn)入需要檢查的部位,因此,標(biāo)尺對(duì)比測(cè)量?jī)H適用于一些特定的項(xiàng)目。

GE90發(fā)動(dòng)機(jī)HPC1級(jí)葉片葉尖彎曲

 圖1 GE90發(fā)動(dòng)機(jī)HPC1級(jí)葉片葉尖彎曲

標(biāo)尺比較法測(cè)量徑向長(zhǎng)度L  標(biāo)尺比較法測(cè)量軸向長(zhǎng)度Y

圖2 標(biāo)尺比較法測(cè)量徑向長(zhǎng)度L                             圖3 標(biāo)尺比較法測(cè)量軸向長(zhǎng)度Y

 

2. 單物鏡比較測(cè)量法

2012年6月28日,在B-2822飛機(jī)退租過程中,孔探檢查發(fā)現(xiàn)右發(fā)ESN30837HPC2級(jí)通道涂層材料丟失。我們通過比例估算逐段累加后,預(yù)計(jì)材料丟失的總面積約為6.1平方英寸。租機(jī)方第一次測(cè)量總面積為10.434平方英寸,超過手冊(cè)允許標(biāo)準(zhǔn)6.2平方英寸。測(cè)量圖片如圖4(a)、圖4(b):

比較法測(cè)量面積   比較法測(cè)量面積

圖4(a) 比較法測(cè)量面積                                        圖4(b) 比較法測(cè)量面積

根據(jù)AMM手冊(cè),HPC2級(jí)葉片間涂層面積:1.52 inch2,涂層寬度:1.42 inch。通過計(jì)算可以得到葉片間距為1.07 inch。

通過圖片可知,其所用的測(cè)量方法為比較法測(cè)量,所用的參考尺寸為已知尺寸涂層寬度1.42 inch。 但第一次測(cè)量所選的尺寸應(yīng)為葉片間距,因此我們判斷該測(cè)量是錯(cuò)誤的。通過對(duì)數(shù)據(jù)的分析,初步判斷其誤差為(1.42/1.07)2-1=76.12%,也就是這個(gè)結(jié)果應(yīng)該比實(shí)際面積大了76.12%,反推實(shí)際結(jié)果約為:5.924 inch2 ,這個(gè)結(jié)果應(yīng)該在標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)。但這僅僅是數(shù)量級(jí)性質(zhì)的估測(cè)。

第二次,他們采用了正確的參考尺寸,再次進(jìn)行了比較法測(cè)量(如圖5)。第2次測(cè)得涂層材料丟失總面積7.984平方英寸,也超出手冊(cè)標(biāo)準(zhǔn)。

比較法測(cè)量面積

圖5 比較法測(cè)量面積

兩次測(cè)量的結(jié)果都與我們的估測(cè)有較大的差異,到底問題在哪里呢?

為找出其中的原因,我們做了以下實(shí)驗(yàn)(如圖6):

實(shí)驗(yàn)?zāi)M壓氣機(jī)葉片間涂層情況

    圖6 實(shí)驗(yàn)?zāi)M壓氣機(jī)葉片間涂層情況

圖中,A區(qū):平行四邊形,高度為10mm=0.3937 inch,長(zhǎng)度為葉片間距L=1.07 inch;B區(qū):任意設(shè)置的四邊形。按照?qǐng)D7所示的傾斜情況分別對(duì)A區(qū)和B區(qū)面積進(jìn)行測(cè)量,如圖8(a)~8(h)。

鏡頭與涂層法線角度的變化

圖7  鏡頭與涂層法線角度的變化(傾斜度)示意  

正對(duì) 參考尺寸為L(zhǎng)=1.07inch      正對(duì) 參考尺寸為W=1.42 inch

圖8(a) 正對(duì) 參考尺寸為L(zhǎng)=1.07inch                 圖8(b) 正對(duì) 參考尺寸為W=1.42 inch

傾斜30° 參考尺寸為L(zhǎng)=1.07inch      傾斜30°參考尺寸為W=1.42 inch

  圖8(c) 傾斜30° 參考尺寸為L(zhǎng)=1.07inch                圖8(d) 傾斜30°參考尺寸為W=1.42 inch

傾斜45° 參考尺寸為L(zhǎng)=1.07inch  傾斜45°參考尺寸為W=1.42 inch

圖8(e) 傾斜45° 參考尺寸為L(zhǎng)=1.07inch           圖8(f) 傾斜45°參考尺寸為W=1.42 inch

傾斜60° 參考尺寸為L(zhǎng)=1.07inch   傾斜60°參考尺寸為W=1.42 inch

 圖8(g) 傾斜60° 參考尺寸為L(zhǎng)=1.07inch              圖8(h) 傾斜60°參考尺寸為W=1.42 inch

A區(qū)面積,預(yù)設(shè)此平行四邊形寬度為H=10mm,按H×L=10 mm×1.07 inch=0.421 inch2

B區(qū)面積區(qū)正對(duì)條件下按不同的參照尺寸測(cè)量后的平均值,為(0.185+0.180)/2=0.183 inch2

同樣,我們對(duì)B區(qū)面積按此方法進(jìn)行了測(cè)量,所得數(shù)據(jù)如表1:


面積

參照

測(cè)量值

垂直(0)

30 度傾斜

45度傾斜

60 度傾斜

A

0.421

L=1.07"

0.415

0.352

0.302

0.240

W=1.42"

0.426

0.471

0.540

0.620

B

0.183

L=1.07"

0.185

0.158

0.144

0.088

W=1.42"

0.180

0.203

0.219

0.304

表1  不同參考尺寸下的比較測(cè)量法測(cè)量結(jié)果

 對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行誤差分析(如表2),并將測(cè)量誤差繪制成趨勢(shì)圖(如圖11):


面積

參考

錯(cuò)誤

垂直(0)

30 度傾斜

45度傾斜

60 度傾斜

A

0.421

L=1.07"

-1.425%

-16.390%

-28.266%

-42.993%

W=1.42"

1.188%

11.876%

28.266%

47.268%

B

0.183

L=1.07"

-1.639%

-13.661%

-21.311%

-51.913%

W=1.42"

1.093%

10.929%

19.672%

66.120%

                 表2  測(cè)量誤差分析

測(cè)量誤差變化趨勢(shì)

 

圖11 測(cè)量誤差變化趨勢(shì)

通過對(duì)數(shù)據(jù)及圖表分析,可以得出以下結(jié)論:

1. 比較法測(cè)量,鏡頭與被測(cè)物的垂直度直接影響測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度,只有在垂直正對(duì)被測(cè)表面時(shí),測(cè)量數(shù)據(jù)才準(zhǔn)確,誤差可以在5%以內(nèi);

2. 傾斜度對(duì)結(jié)果的誤差影響極大,傾斜越大,誤差越大;

3. 基準(zhǔn)方向的選取對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響有增大和減小兩種趨勢(shì):基準(zhǔn)方向在傾斜面時(shí),測(cè)量數(shù)據(jù)偏大;而基準(zhǔn)方向垂直于傾斜面時(shí),測(cè)量數(shù)據(jù)偏小。

在實(shí)際工作中很難保證鏡頭正對(duì)被測(cè)表面,因而也就無法保證測(cè)量精確度。并且,由于基準(zhǔn)值方向的選取對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,會(huì)造成相應(yīng)的比實(shí)際值增大或減小,這對(duì)實(shí)際判斷有完全兩種不同的結(jié)論。

因此,比較法測(cè)量數(shù)據(jù)有很大的迷惑性,如果片面相信這類數(shù)據(jù)而忽視實(shí)際工作條件,將無可避免的造成錯(cuò)誤的判斷。


3. 單物鏡陰影測(cè)量法

為了避免比較法測(cè)量帶來的迷惑性,就需要使用工業(yè)內(nèi)窺鏡中的絕對(duì)測(cè)量方法。單物鏡陰影測(cè)量法是內(nèi)窺檢測(cè)行業(yè)第一種絕對(duì)法測(cè)量模式。

它采用單視窗檢測(cè)視圖,這有利于測(cè)量較大缺陷的尺寸。在確保陰影測(cè)量鏡頭與被測(cè)物表面垂直的狀況下,通過在缺陷所在平面上投射的一條陰影線而建立的坐標(biāo)系的三角幾何計(jì)算,測(cè)量精度最高可達(dá)97%以上(如圖12,圖13))。

 

長(zhǎng)度的測(cè)量  面積的測(cè)量

  圖12 長(zhǎng)度的測(cè)量                                                     圖13 面積的測(cè)量

然而,在實(shí)際工況下,探頭穿插進(jìn)入發(fā)動(dòng)機(jī)內(nèi)部,保證鏡頭與被測(cè)物表面垂直并不容易實(shí)現(xiàn)(否則僅能延著投射的陰影線上進(jìn)行簡(jiǎn)單的距離測(cè)量),這就要求探頭有較好的導(dǎo)向操作性能及操作人員對(duì)發(fā)動(dòng)機(jī)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)有全面的掌握。另外,陰影測(cè)量鏡頭的觀察的焦距較短,因此工業(yè)內(nèi)窺鏡在孔探工作中需要首先用視野、焦距相對(duì)較大的觀察鏡頭查找到缺陷,然后再將探頭取出,更換上陰影測(cè)量鏡頭以后,再度進(jìn)入發(fā)動(dòng)機(jī)找到該缺陷后進(jìn)行測(cè)量??傊懿倏仉y度限制,陰影測(cè)量法使用率并不高。


4. 雙物鏡立體測(cè)量

隨后工業(yè)內(nèi)窺鏡出現(xiàn)的雙物鏡立體測(cè)量法是第一種真正擺脫了鏡頭垂直于被測(cè)物表面限制的絕對(duì)法測(cè)量模式,其測(cè)量鏡頭利用左右2個(gè)物鏡成像的夾角差異的識(shí)別與計(jì)算,它可以實(shí)現(xiàn)以任何角度拍攝被測(cè)物表面,采集圖像信息,進(jìn)行多種測(cè)量功能并獲取精準(zhǔn)的數(shù)據(jù)。也因此,雙物鏡測(cè)量法第一次被冠以“立體”二字。 

為保證測(cè)量誤差在5%范圍內(nèi),在使用工業(yè)內(nèi)窺鏡中雙物鏡立體測(cè)量時(shí)最低的放大倍數(shù)應(yīng)不小于5倍,最佳放大倍數(shù)為10倍以上,這也決定了鏡頭離被觀測(cè)物體表面的距離一般在15mm以內(nèi)。 

另外,由于雙物鏡立體測(cè)量畫面在工業(yè)內(nèi)窺鏡顯示屏上被分割成左右2個(gè)視窗,這也決定了相對(duì)于單物鏡視窗該測(cè)量方法所能測(cè)得的尺寸范圍比較小。一般認(rèn)為,10mm以下的缺陷尺寸可以進(jìn)行精確測(cè)量(誤差保證在5%以內(nèi)),而10~20mm缺陷尺寸的測(cè)量誤差比較大,20mm以上的缺陷尺寸測(cè)量基本精度不可靠,僅作參考。 

但在發(fā)動(dòng)機(jī)孔探過程中,如前文所述有時(shí)會(huì)發(fā)現(xiàn)一些比較大的損傷(尺寸在10mm以上)。在對(duì)這些大尺寸的損傷進(jìn)行定量測(cè)量過程中,受位置的限制以及設(shè)備、測(cè)量精度等的影響,目前通常使用工業(yè)內(nèi)窺鏡的雙物鏡立體測(cè)量法很難做到一次性準(zhǔn)確的測(cè)量,只能進(jìn)行分段或分區(qū)測(cè)量。而在實(shí)際過程中,分段或分區(qū)的位置難以把握,特征點(diǎn)位有時(shí)很難選,這也成為雙物鏡立體測(cè)量法技術(shù)條件下的一個(gè)難點(diǎn)。 

一次性測(cè)量實(shí)例如圖14,測(cè)量缺口邊緣到葉尖的距離,物距Z為20.3mm:

 

一次性測(cè)量

 圖14 一次性測(cè)量

分段測(cè)量實(shí)例,如圖15(a)~15(d):

 分段測(cè)量 L1=3.21mm  分段測(cè)量 L2=4.18mm

圖15(a) 分段測(cè)量 L1=3.21mm                  圖15(b) 分段測(cè)量 L2=4.18mm 

分段測(cè)量 L3=2.48mm  分段測(cè)量 L4=2.65mm

 圖15(c) 分段測(cè)量 L3=2.48mm                       圖15(d) 分段測(cè)量 L4=2.65mm

此缺口離葉片葉尖的實(shí)際距離為12.31861mm(精確數(shù)據(jù))。一次性測(cè)量結(jié)果為11.52mm,誤差為:-6.48%;分段測(cè)量的結(jié)果為:3.21+4.18+2.48+2.65=12.52mm,誤差為:+1.63%。由此可見,分段測(cè)量可以滿足精度要求。

在很多情況下,分段的特征點(diǎn)和特征位置并不好找,比如RB211發(fā)動(dòng)機(jī)HPC2級(jí)涂層材料丟失,邊界點(diǎn)就不易確定,尤其在很多情況下為了分區(qū),鏡頭角度需要不斷的改變,特征點(diǎn)就更不清楚了。

此外與單物鏡陰影測(cè)量法一樣,由于觀察的焦距較短,所以在工業(yè)內(nèi)窺鏡孔探工作中同樣需要先使用視野、焦距相對(duì)較大的觀察鏡頭查找到缺陷,然后再將探頭取出更換上雙物鏡立體測(cè)量鏡頭后,再度進(jìn)入發(fā)動(dòng)機(jī)找到該缺陷后進(jìn)行測(cè)量。雖然如此,鑒于測(cè)量時(shí)測(cè)量鏡頭不需要垂直于被測(cè)量缺陷所在平面,雙物鏡立體測(cè)量法使用率還是遠(yuǎn)高于單物鏡陰影測(cè)量法。


5. 單物鏡激光測(cè)量法

其后工業(yè)內(nèi)窺鏡出現(xiàn)的單物鏡激光測(cè)量法也是一種單視窗的、理論上可測(cè)量30~50mm大尺寸的方法,同樣不需要垂直于被測(cè)量缺陷所在的平面,并且其測(cè)量鏡頭的焦距較長(zhǎng),可以直接用來查找缺陷然后進(jìn)行拍照測(cè)量,因此其在面世之初曾受關(guān)注。但在實(shí)際應(yīng)用中,由于散落在缺陷上的激光點(diǎn)的數(shù)量相對(duì)有限,導(dǎo)致檢測(cè)同一缺陷的測(cè)量數(shù)值的重復(fù)性相對(duì)較差而無法確認(rèn)有效數(shù)據(jù),特別是針對(duì)較小缺陷時(shí)這種情況就更加明顯,所以這種測(cè)量方法目前在民航領(lǐng)域應(yīng)用不多,在此就不做進(jìn)一步分析了。


6. 單物鏡三維立體相位掃描測(cè)量法

近幾年工業(yè)內(nèi)窺鏡出現(xiàn)的單物鏡三維立體相位掃描測(cè)量法(以下簡(jiǎn)稱 3D相位掃描測(cè)量)是一種新型的絕對(duì)法光學(xué)測(cè)量技術(shù),其測(cè)量鏡頭可將線形光柵交叉投射到表面,并用具有高質(zhì)量光學(xué)器件的攝像機(jī)捕捉這個(gè)線形模式,再用專有算法處理圖像,得到整個(gè)表面的三維點(diǎn)云圖;最后將三維空間點(diǎn)坐標(biāo)與測(cè)量結(jié)合使用,獲得更多有關(guān)缺陷或者被測(cè)對(duì)象的精確信息,這是真正意義上的三維立體測(cè)量技術(shù),并且數(shù)據(jù)重復(fù)性好,可靠性高。

其測(cè)量鏡頭同樣不需要垂直于被測(cè)量缺陷所在的平面,尤為特別的是它將不同焦距段(極近、近焦和中焦)的觀察鏡頭和測(cè)量鏡頭合為一體,采用大視野單視窗視圖,檢測(cè)過程中發(fā)現(xiàn)缺陷即可拍照測(cè)量,不僅適合于較大尺寸缺陷的測(cè)量,而且較之雙物鏡立體測(cè)量,省去了從觀察鏡頭更換為測(cè)量鏡頭的步驟,有效的提高檢測(cè)效率,同時(shí)也降低了工業(yè)內(nèi)窺鏡探頭反復(fù)穿插帶來卡滯的風(fēng)險(xiǎn)。

例如,依據(jù)3D相位掃描測(cè)量,如圖16(a)和圖16(b),此前討論的HPC2級(jí)涂層材料丟失的總面積為6.48平方英寸。

3D測(cè)量法測(cè)量涂層丟失面積 3D測(cè)量法測(cè)量涂層丟失面積

圖16(a) 3D測(cè)量法測(cè)量涂層丟失面積             圖16(b) 3D測(cè)量法測(cè)量涂層丟失面積

2012年08月31日,該發(fā)進(jìn)入大修廠分解。最終用雙物鏡立體測(cè)量分段測(cè)量拓片各分區(qū)(如圖17、圖18),所得涂層脫落總面積(共10處)為:6.5429平方英寸。3D相位掃描測(cè)量值結(jié)果與其對(duì)比誤差為-0.96%,因在役使用3D相位掃描測(cè)量時(shí)少了一部分葉尖遮蓋部分的面積,這也驗(yàn)證了3D相位掃描測(cè)量法測(cè)量大尺寸的相對(duì)準(zhǔn)確性。 

發(fā)動(dòng)機(jī)分解后的涂層丟失情況    拓片取涂層丟失情況分區(qū)測(cè)量

 圖17  發(fā)動(dòng)機(jī)分解后的涂層丟失情況                               圖18 拓片取涂層丟失情況分區(qū)測(cè)量

 

總體上,工業(yè)內(nèi)窺鏡中的3D相位掃描測(cè)量數(shù)據(jù)誤差小,大面積(葉片間距內(nèi))缺陷可以一次性測(cè)量;而如果使用雙物鏡立體測(cè)量大面積缺陷,則需要分段測(cè)量,但分段點(diǎn)不好把握。

在使用3D相位掃描測(cè)量法進(jìn)行測(cè)量時(shí),應(yīng)關(guān)注以下的特點(diǎn):

1)拍照時(shí)不需要與被測(cè)表面垂直;

2)觀察到測(cè)量過程不需要更換鏡頭,視野比雙物鏡立體測(cè)量大;

3)拍照時(shí)要求保持鏡頭有2~3秒的靜止;

4)被測(cè)物表面不能有太強(qiáng)烈的的反光;

5)為保證測(cè)量精度,物距MTD應(yīng)小于1.0inch;

6)對(duì)于不能精確建立點(diǎn)云坐標(biāo)系的區(qū)域(如高反光或較暗部位),系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)識(shí)別為紅區(qū)并禁止放置測(cè)量點(diǎn);如果其覆蓋范圍影響測(cè)量選點(diǎn),需要調(diào)整角度重新拍攝圖片(如圖19、圖20);

7)檢測(cè)圖片可以使用電腦軟件二次取點(diǎn)測(cè)量,且軟件取點(diǎn)較之現(xiàn)場(chǎng)取點(diǎn)視野范圍更大。

 

3D測(cè)量選取畫面的紅區(qū)   3D測(cè)量避開紅區(qū)的取點(diǎn) 

圖19 3D測(cè)量選取畫面的紅區(qū)                                  圖20 3D測(cè)量避開紅區(qū)的取點(diǎn)

 

三、結(jié)論

在實(shí)際的發(fā)動(dòng)機(jī)孔探檢查過程中,受工業(yè)內(nèi)窺鏡相應(yīng)設(shè)備及使用條件限制,采用比較法測(cè)量大尺寸時(shí),應(yīng)特別考慮鏡頭與被測(cè)物的垂直情況;使用雙物鏡立體測(cè)量法進(jìn)行測(cè)量時(shí),應(yīng)分段或分區(qū)測(cè)量以保證測(cè)量精度,但需要確定好特征點(diǎn);激光測(cè)量法雖然對(duì)30~50mm的缺陷測(cè)量時(shí)精度相對(duì)更加準(zhǔn)確一些,但航空發(fā)動(dòng)機(jī)若有如此大的缺陷幾乎也無測(cè)量的價(jià)值而直接換發(fā)了;在設(shè)備、條件允許的情況下,3D相位掃描測(cè)量法可以相對(duì)準(zhǔn)確的一次性測(cè)量大尺寸缺陷,但應(yīng)注意3D相位掃描測(cè)量法的限制條件。

技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)使CCD的像素可以做到更大,目前普遍使用的CCD像素為40萬左右,未來新的技術(shù)條件可以使CCD像素達(dá)到100萬或更高。這樣的條件下,即使在同樣的物距狀況下,可以對(duì)被觀察的物體進(jìn)行放大處理,或者可以在比較大的物距條件下對(duì)缺陷進(jìn)行測(cè)量,從而實(shí)現(xiàn)大尺寸的測(cè)量。

民航孔探檢查事無巨細(xì)且責(zé)任重大,只有找到趁手的工業(yè)內(nèi)窺鏡工具,才能幫助孔探工程師在黑暗世界里準(zhǔn)確可靠地探尋真實(shí)所在,并提高工作效率;此外,還要充分了解內(nèi)窺鏡的性能特點(diǎn),尤其是各種測(cè)量方法的應(yīng)用特點(diǎn)和局限性,并結(jié)合實(shí)際應(yīng)用情況,才能盡可能地發(fā)揮設(shè)備的優(yōu)勢(shì),避免視情維護(hù)中的漏檢和誤判所帶來的經(jīng)濟(jì)損失與安全隱患。


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測(cè)量型內(nèi)窺鏡


應(yīng)用領(lǐng)域