工業(yè)內(nèi)窺鏡測量缺陷的注意事項

2021-09-13 09:32:49

工業(yè)內(nèi)窺鏡檢測的目的是發(fā)現(xiàn)缺陷并及做出正確處理決策,但有時僅僅發(fā)現(xiàn)缺陷還不夠,缺陷的嚴重程度也是決策的重要因素,特別是對于一些處于臨界狀態(tài)的缺陷,當(dāng)依賴主觀經(jīng)驗并不可靠時,缺陷測量功能帶來的定量分析能力,讓檢測決策更靠譜。本文介紹工業(yè)內(nèi)窺鏡測量缺陷的注意事項。

由于缺陷測量方法有多種,有的存在一些操作方面的要求,因此要額外關(guān)注測量缺陷時的注意事項,例如:采用投射陰影線的陰影測量法,注意被測物表面應(yīng)盡可能與探頭垂直;雙物鏡測量法沒有上述垂直要求,但是要注意觀察和測量所用鏡頭不同,需要更換鏡頭,此外還需避免出現(xiàn)點漂移引入的人為誤差,以免影響測量精度。

韋林百萬高清工業(yè)內(nèi)窺鏡搭載的單物鏡相位掃描三維立體測量技術(shù),是目前先進的工業(yè)內(nèi)窺鏡測量技術(shù),很好地解決了上述測量技術(shù)的弊端,優(yōu)勢包括:基于光柵主動投射技術(shù),無需探頭垂直或接觸被測物體表面;整個檢測過程無需進行鏡頭的更換和缺陷的重新定位;3D點云模型的重建,降低了人為因素可能導(dǎo)致的誤差,測量更為精準(zhǔn)。

韋林高清工業(yè)內(nèi)窺鏡MViQ

下面列舉一些測量缺陷的注意事項及操作技巧

1. 抓取測量圖片時讓探頭與被測表面保持約3秒鐘左右的相對靜止;

2. 針對高反光的區(qū)域抓取圖像時,要選擇到合適的角度,例如:45°角,避免90°直射,以降低反光對光柵掃描產(chǎn)生的影響,尤其是針對壓氣機葉片等高反光部件,盡量避免直視,盡可能選擇一定的角度進行拍攝;

3. 為了保證精度,相位掃描三維立體測量系統(tǒng)在精度下降區(qū)域顯示為黃色,如條件允許盡量避免在黃色區(qū)域進行測量操作;

4. 保持測量鏡頭端部相位光柵區(qū)域的清潔,不被沾污,防止影響掃描結(jié)果,進而影響測量精度;

5. 由于系統(tǒng)掃描完成之后需要進行數(shù)學(xué)模型的重構(gòu),進行大量的數(shù)據(jù)運算,此時請耐心等待約1到2秒鐘的時間;

6. 測量時,MTD值即物距顯示,通常不超過25mm,以保證測量的準(zhǔn)確度。

工業(yè)內(nèi)窺鏡測量缺陷示意圖

關(guān)于工業(yè)內(nèi)窺鏡測量缺陷的注意事項先給您介紹到這里,關(guān)于各種測量技術(shù)的詳情,您可以閱讀以下推薦的文章。上圖是使用韋林單物鏡相位掃描三維立體測量技術(shù)測量缺陷的示意圖,該測量技術(shù)在測量鏡頭的視野角度及焦距、3D數(shù)字點云立體建模測量分析功能、測量模式、以及與3D打印技術(shù)相融合等方面,都有不俗的創(chuàng)新或明顯的改善,讓檢測流程更流暢,測量手段更多樣化,結(jié)果更精準(zhǔn)可靠,有效提高了內(nèi)窺鏡檢測的效率及質(zhì)量。



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